{"id":15548,"date":"2018-10-31T09:06:15","date_gmt":"2018-10-31T08:06:15","guid":{"rendered":"https:\/\/piekiec.de\/?p=15548"},"modified":"2020-01-28T04:30:18","modified_gmt":"2020-01-28T03:30:18","slug":"ipc-tag-2018-fehlerverstaendnis-bei-verbesserung-der-zuverlaessigkeit","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/piekblog.com\/de\/ipc-tag-2018-fehlerverstaendnis-bei-verbesserung-der-zuverlaessigkeit\/","title":{"rendered":"2018 IPC Tag \u201eFehlerverst\u00e4ndnis bei Verbesserung der Zuverl\u00e4ssigkeit\u201c"},"content":{"rendered":"

Sehr geehrte Damen und Herren,<\/p>\n

wir freuen uns Sie zu dem IPC Tag 2018 mit dem Thema \u201eFehlerverst\u00e4ndnis bei Verbesserung der Zuverl\u00e4ssigkeit\u201c einzuladen. Der IPC Tag findet statt am 6. Dezember 2018 in \u2019s-Hertogenbosch, Niederlande.<\/p>\n

Themen<\/h4>\n

Herr Bhanu Sood, Ingenieur f\u00fcr Commodity Risikoeinsch\u00e4tzung beim NASA Goddard Space Flight Center wird den IPC Tag leiten. W\u00e4hrend des IPC Tages werden viele Themen zu Fehlermechanismen diskutiert, die Einfluss haben auf die Funktionalit\u00e4t von PCBs unter diversen Stressbedingungen.<\/p>\n

Herr Bhanu Sood wird Ihnen erkl\u00e4ren wie diese Mechanismen in Beziehung stehen zu der Weise wie PCB Materialien ausgew\u00e4hlt, PCBs entworfen, produziert, getestet und in der Praxis genutzt werden.<\/p>\n

Der Workshop vermittelt Richtlinien f\u00fcr die Auswahl der Methoden um potentielle Fehlermechanismen zu identifizieren. Dies basiert auf dem Fehlerverlauf und zeigt wie eine systematische Fehleranalyse der Grundursache bei einer Leiterplatte zuk\u00fcnftige Probleme vermeiden kann.<\/p>\n

Es ist eine einmalige Gelegenheit f\u00fcr PCB Ingenieure, Qualit\u00e4tsingenieure, Designingenieure, Personen im Qualit\u00e4tsmanagement und Personen t\u00e4tig im Einkauf von Leiterplatten ihr Wissen zu erweitern, Best Practice Beispiele zu teilen und Erfolgsgeschichten der sich stetig \u00e4ndernden Elektronikindustrie zu h\u00f6ren.<\/p>\n

Hauptredner<\/h4>\n

Bhanu Sood ist Ingenieur f\u00fcr Commodity Risikoeinsch\u00e4tzung beim NASA Goddard Space Flight Center. Mr. Sood arbeitet vorwiegend als Spezialist und leitet die gesamten Entwicklungsversuche betreffend Risiko und Zuverl\u00e4ssigkeit von mikroelektronischen Verpackungen und Leiterplatten, die f\u00fcr NASA Goddards Flugmissionen und Bodenausr\u00fcstungen verwendet werden. Vor seiner Zeit bei der NASA arbeitete Herr Sood als Direktor des Laboratoriums an der \u201eUniversity of Maryland\u2019s Center for Advanced Life Cycle Engineering (CALCE)\u201c. Er h\u00e4lt zwei Patente, eine Erfindungsmeldung und ist der Autor von einigen Hundert Tagungsbeitr\u00e4gen, Pr\u00e4sentationen, technischen Rapporten, vier Buchkapiteln und 32 Gutachten von wissenschaftlichen und technischen Manuskripten.<\/p>\n

Tagungseinzelheiten<\/h4>\n

Datum: Donnerstag, 6. Dezember 2018
\nTagungsort: Fletcher Hotel-Restaurant ’s-Hertogenbosch, Burg Burgerslaan 50, 5245 NH Rosmalen, Niederlande
\nKosten: Gratis
\nRegistrierung: Bitte per E-Mail an\u00a0ipc-day@piek.email<\/a><\/p>\n

Programm:<\/h4>\n